Reliability Certification for Microelectronic Components: Better by Test or Better by Inspection?

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International Symposium on Reliability and Maintainability (20 : 1990 : Tokio) International Symposium on Reliability and Maintainability, 1990-Tokyo
1. Verfasser:	AAGESEN, Svend M. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	AKIBA, Shigeyuki (VerfasserIn), STEVENSON, John L. (VerfasserIn)
Pages:	1990-
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1990
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Beschreibung
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