A Computer Aided Error-Check Method for the Reliability-Design of Mos-Lsi in Developmental Stage

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Symposium on Reliability and Maintainability (12. : 1982 : Tokio) 12th Symposium on Reliability and Maintainability
1. Verfasser:	Takakura, Koichi (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Iwatsuki, Mamoru (VerfasserIn), Sashiyama, Atsushi (VerfasserIn), Imafuji, Kazuyuki (VerfasserIn), Nagano, Moto (VerfasserIn), Ogamo, Keiko (VerfasserIn), Kawamo, Keiji (VerfasserIn)
Pages:	12
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1982
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