SUMMARIZED ANALYSIS OF FAILURE RATE DATA FOR ELECTRONIC COMPONENTS

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Symposium on Reliability and Maintainability (4. : 1974 : Tokio) 4th Symposium on Reliability and Maintainability
1. Verfasser:	NAKAZAWA, Shigeji (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	SHIOMI, Hiroshi (VerfasserIn)
Pages:	4
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1974
Schlagworte:
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Beschreibung
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