Investigation of Difference Interferometers with Two-mode Lasers for Measuring Surface Profiles

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Multinational Instrumentation Conference (2. : 1986 : Peking) MICONEX '86 ; part 2
1. Verfasser:	Lebowsky, F. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Li, P. S. (VerfasserIn)
Pages:	86
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1986
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