SURGE DESTRUCTION OF EMITTER-BASE JUNCTION OF TRANSISTOR

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Symposium on Reliability and Maintainability (6. : 1976 : Tokio) 6th Symposium on Reliability and Maintainability
1. Verfasser:	Sakai, Tsutomu (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Matsumura, Hiroshi (VerfasserIn), Nagia, Seiichi (VerfasserIn)
Pages:	6
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1976
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Beschreibung
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