TRANSISTOR CURRENT GAIN DEGRADATION DUE TO AVALANSHE BREAKDOWN IN THE EMITTER-BASE JUNCTION AND CIRCUIT DESIGN FOR ITS SOLUTION

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Symposium on Reliability and Maintainability (6. : 1976 : Tokio) 6th Symposium on Reliability and Maintainability
1. Verfasser:	Fujie, Akio (VerfasserIn)
Pages:	6
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1976
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Keine Ergebnisse!