TRANSISTOR CURRENT GAIN DEGRADATION DUE TO AVALANSHE BREAKDOWN IN THE EMITTER-BASE JUNCTION AND CIRCUIT DESIGN FOR ITS SOLUTION
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Symposium on Reliability and Maintainability (6. : 1976 : Tokio) 6th Symposium on Reliability and Maintainability |
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| 1. Verfasser: | |
| Pages: | 6 |
| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | eng |
| Veröffentlicht: |
1976
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| Schlagworte: | |
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