Static Analysis of Endian Portability by Abstract Interpretation

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:International Static Analysis Symposium (28. : 2021 : Chicago, Online) Static Analysis
1. Verfasser: Delmas, David (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Ouadjaout, Abdelraouf (VerfasserIn), Mine, Antoine (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2021
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Beschreibung
ISBN:9783030888053