Evaluation of the Transfer Learning Models in Wafer Defects Classification
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Veröffentlicht in: | iM3F (1. : 2020 : Online) Recent trends in mechatronic towards Industry 4.0 |
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Pages: | 4 |
Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
2022
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ISBN: | 9789813345966 |
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