Evaluation of the Transfer Learning Models in Wafer Defects Classification

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:iM3F (1. : 2020 : Online) Recent trends in mechatronic towards Industry 4.0
1. Verfasser: Jizat, Jessnor Arif Mat (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Majeed, Anwar P. P. Abdul (VerfasserIn), Nasir, Ahmad Fakhri Ab. (VerfasserIn), Taha, Zaharı (VerfasserIn), Yuen, Edmund (VerfasserIn), Lim, Shi Xuen (VerfasserIn)
Pages:4
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2022
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Beschreibung
ISBN:9789813345966