Fault Testing a Synthesizable Embedded Processor at Gate Level using UltraScale FPGA Emwulation

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ACM/SIGDA International Symposium on Field-Programmable Gate Arrays (27. : 2019 : Seaside, Calif.) FPGA'19
1. Verfasser:	Mannos, Tom J. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Dziki, Brian (VerfasserIn), Sharif, Moslema (VerfasserIn)
Pages:	19
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
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