Dose Re-Assessment TSEE Measurements with BeO Thin-Film Detectors

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International Symposium on Exoelectron Emission and Applications (8 : 1985 : Osaka) Proceedings of the 8th International Symposium on Exoelectron Emission and Applications
1. Verfasser:	LESZ, J. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	KRIEGSEIS, W. (VerfasserIn), SCHARMANN, A. (VerfasserIn)
Pages:	8
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	1985
Schlagworte:
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Beschreibung
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