Plenoptic Inspection System for Automatic Quality Control of MEMS and Microsystems

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IFIP WG 5.5 International Precision Assembly Seminar (9. : 2020 : Online) Smart technologies for precision assembly
1. Verfasser: Kirschmann, Moritz A. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Pierer, Jörg (VerfasserIn), Steinecker, Alexander (VerfasserIn), Schmid, Philipp (VerfasserIn), Erdmann, Arne (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2021
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Beschreibung
ISBN:9783030726317