Using Conductive Atomic Force Microscopy to the Evaluate Electrical Properties of MoS2 nanoparticles for Device Applications

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Symposium "Semiconductors, Dielectrics, and Metals for Nanoelectronics" (18. : 2021 : Online) Semiconductors, Dielectrics, and Metals for Nanoelectronics 18
1. Verfasser:	Alhammadi, A. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Alnaqbi, W. (VerfasserIn), Ashraf, J. (VerfasserIn), Rezk, A. (VerfasserIn), Nayfeh, A. (VerfasserIn)
Pages:	18
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2021
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