Closed-Loop Active Model Diagnosis Using Bhattacharyya Coefficient: Application to Automated Visual Inspection

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Conference on Intelligent Systems Design and Applications (20. : 2020 : Online) Intelligent systems design and applications ; set 1
1. Verfasser:	Noom, Jacques (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Thao, Nguyen Hieu (VerfasserIn), Soloviev, Oleg (VerfasserIn), Verhaegen, Michel (VerfasserIn)
Pages:	1
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2021
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