ISTFA 2020 : papers planned for the 46th International Symposium for Testing and Failure Analysis

ISTFA 2020 papers planned for the 46th International Symposium for Testing and Failure Analysis

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: International Symposium for Testing and Failure Analysis (VerfasserIn), Electronic Device Failure Analysis Society (VeranstalterIn), ASM International (Herausgebendes Organ)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Materials Park, Ohio ASM International 2020
Schlagworte:
Konferenzschrift > Testen > Schadensanalyse > Technik > Elektronik
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Aufgrund der COVID-19-Pandemie abgesagt
Literaturangaben
Beschreibung:xiv, 382 Seiten
Illustrationen
ISBN:9781627083331
978-1-62708-333-1