LEARNING DEEP KERNELS FOR NON-PARAMETRIC TWO-SAMPLE TESTS

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International Conference on Machine Learning (37. : 2020 : Online) 37th International Conference on Machine Learning (ICML 2020) ; Part 9 of 15
1. Verfasser:	Liu, Feng (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Xu, Wenkai (VerfasserIn), Lu, Jie (VerfasserIn), Zhang, Guangquan (VerfasserIn), Gretton, Arthur (VerfasserIn), Sutherland, D. J. (VerfasserIn)
Pages:	37
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2021
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