WHITE BEAM X-RAY DIFFRACTION TOPOGRAPHY (WBXDT) STUDIES OF BRIDGMAN GROWN CDZNTE CRYSTALS

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	MRS Spring Meeting & Exhibit (2015 : San Francisco, Calif.) Defects and materials issues in semiconductors - relationship to optoelectronic properties and device reliability
1. Verfasser:	Babalola, S. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Uba, S. (VerfasserIn), Hossain, A. (VerfasserIn), Camarda, G. (VerfasserIn), Montgomery, R. James. T. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
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