Explaining Image Classifiers Using Statistical Fault Localization

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ECCV (16. : 2020 : Online) Computer vision - ECCV 2020 ; Part 28
1. Verfasser:	Sun, Youcheng (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Chockler, Hana (VerfasserIn), Huang, Xiaowei (VerfasserIn), Kroening, Daniel (VerfasserIn)
Pages:	2020
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!