Dual-beam Scanning Electron Microscope (SEM) and Focused Ion Beam (FIB): A Practical Method for Characterization of Small Cultural Heritage Objects

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	MRS Fall Meeting & Exhibit (2013 : Boston, Mass.) (10.) Materials Issues in Art and Archaeology X
1. Verfasser:	Carl, Matthew (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Smith, Chris A. (VerfasserIn), Young, Marcus L. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2017
Schlagworte:
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