A network analytic method for measuring patent thickets a case of FCEV technology

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Technological forecasting & social change
1. Verfasser: Yuan, Xiaodong (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Li, Xiaotao (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2020
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