A Predictive Process Design Kit for Three-Independent-Gate Field-Effect Transistors

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (27. : 2019 : Cuzco) VLSI-SoC
1. Verfasser:	Cadareanu, Patsy (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Gore, Ganesh (VerfasserIn), Giacomin, Edouard (VerfasserIn), Gaillardon, Pierre-Emmanuel (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!