XDN: Towards Efficient Inference of Residual Neural Networks on Cambricon Chips

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Bench (2. : 2019 : Denver, Colo.) Benchmarking, measuring, and optimizing
1. Verfasser: Li, Guangli (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Wang, Xueying (VerfasserIn), Ma, Xiu (VerfasserIn), Liu, Lei (VerfasserIn), Feng, Xiaobing (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2020
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Beschreibung
ISBN:9783030495558