Halftone Image Steganography with Distortion Measurement Based on Structural Similarity

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IWDW (18. : 2019 : Chengdu) Digital forensics and watermarking
1. Verfasser: Liu, Wanteng (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Yin, Xiaolin (VerfasserIn), Lu, Wei (VerfasserIn), Zhang, Junhong (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2020
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Beschreibung
ISBN:9783030435745