Verschleiß- und Schadenscharakterisierung an beschichteten Hartmetallwerkzeugen mittels FIB-SEM-Mikroskopie

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Metallographie-Tagung (51. : 2017 : Aalen) Fortschritte in der Metallographie
1. Verfasser: Kresse, T. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Jürgens, W. (VerfasserIn), Meinhard, D. (VerfasserIn), Baumann, W. (VerfasserIn), Bernthaler, T. (VerfasserIn), Schneider, G. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2017
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Beschreibung
ISBN:9783883554150