PatentTransformer-1.5: Measuring Patent Claim Generation by Span Relevancy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:JURISIN (13. : 2019 : Yokohama) New frontiers in artificial intelligence
1. Verfasser: Lee, Jieh-Sheng (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Hsiang, Jieh (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2020
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Beschreibung
ISBN:9783030587895