36 New x-ray refractometry of paper and pigments

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	4. Internationale Konferenz Zerstörungsfreie Untersuchungen an Kunst- und Kulturgütern, Berlin 3.-8. Oktober 1994 ; Teil 1
1. Verfasser:	Hentschel, M. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Harbich, K.-W. (VerfasserIn), Lange, A. (VerfasserIn)
Pages:	4
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	1994
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