Liquidity and volatility in the US treasury market

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of econometrics
1. Verfasser:	Nguyen, Giang H. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Engle, Robert F. (VerfasserIn), Fleming, Michael J. (VerfasserIn), Ghysels, Eric (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
Schlagworte:	Volatility > Liquidity > Liquidity-at-risk > Log-ACD models > Treasury market > Aufsatz in Zeitschrift
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Beschreibung
ISSN:	0304-4076