Automatic Optical Inspection for Millimeter Scale Probe Surface Stripping Defects Using Convolutional Neural Network

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ACIVS (20. : 2020 : Auckland) Advanced concepts for intelligent vision systems
1. Verfasser:	Ting, Yu-Chieh (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Lin, Daw-Tung (VerfasserIn), Chen, Chih-Feng (VerfasserIn), Tsai, Bor-Chen (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
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