Das CS-Impulswirbelstrom-Mikroskop ein hochauflösendes Meßsystem zur Beschreibung von oberflächennahen Werkstoff- und Bauteileigenschaften

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Die ZfP der DACH-Länder im Spiegelbild internationaler Normung ; 1: Vorträge
1. Verfasser:	Maaß, M. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Crostack, H.-A. (VerfasserIn), Bischoff, W. (VerfasserIn), Nordhaus, B. (VerfasserIn)
Pages:	1
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	1996
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