Proceedings of the International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, [19 - 20 October 1987, Singapore]

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Institute of Electrical and Electronics Engineers Singapore Section (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Chan, Daniel (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Singapore 1987
Schlagworte:
Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:154 S.
Ill., graph. Darst.