Measurement of Resistivity of Silicon Carbide by Discharge Time of Equivalent Capacitance of the Sample

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Asia-Pacific Conference on Silicon Carbide and Related Materials (2018 : Peking) Semiconductors: silicon carbide and related materials
1. Verfasser:	Wang, X. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Tian, L. (VerfasserIn), Wang, J. S. Liand S. J. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
Schlagworte:
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