Investigation of the 6-Folded Pattern in the Facetted Region of 4° Off-Axis 4H-SiC

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Asia-Pacific Conference on Silicon Carbide and Related Materials (2018 : Peking) Semiconductors: silicon carbide and related materials
1. Verfasser:	Fen, F. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Wang, Y. M. (VerfasserIn), Wei, R. S. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!