Final report / Wafer Level Reliability Assessment Workshop, Lake Tahoe, CA, October 24 - 27, 1982

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Stanford University Integrated Circuits Laboratory (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Trapp, O. D. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Berkeley, Calif. Univ. 1982
Schlagworte:
Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:176 S.
Ill., graph. Darst.