Microbeam analysis 1985 proceedings of the 20th annual conference of the Microbeam Analysis Society ; Louisville, Kentucky, 5 - 9 August 1985

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Microbeam Analysis Society (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Armstrong, John T. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: San Francisco, Calif. San Francisco Press 1985
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Beschreibung
Beschreibung:XV, 384 S.
Ill., graph. Darst.