Sanning probe microscopy special issue

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Nakajima, Ken (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Tokyo IOP Publishing 2020
Schriftenreihe:Japanese journal of applied physics volume 59, number SN (August 2020)
Schlagworte:
Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:"This special issue is realized in conjunction with the 27th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM27) held at Shuzenji, Shizuoka, Japan, from December 5 to 7, 2019" - Vorwort
Beschreibung:ca. 114 Seiten in getrennter Zählung
Diagramme, Illustrationen