A MIP model and a biased random-key genetic algorithm based approach for a two-dimensional cutting problem with defects

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:European journal of operational research
1. Verfasser: Gonçalves, José Fernando (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Wäscher, Gerhard (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2020
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