1945 UNDERSTANDING SOURCES OF RESIDUAL STRESS IN PDC BY X-RAY DIFFRACTION

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:International Technical Conference on Diamond, Cubic Boron Nitride and their Applications (2019 : New Orleans, La.) International Technical Conference on Diamond, Cubic Boron Nitride and their Applications (INTERTECH 2019)
1. Verfasser: Mukhopadhyay, D. K. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Bertagnolli, K. E. (VerfasserIn), Richtsmeier, Jack H. (VerfasserIn)
Pages:2019
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2020
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Beschreibung
ISBN:9781713803508