Single Edge Precrack V-Notched Beam (SEPVNB) Fracture Toughness Testing on Silicon Nitride

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International Conference on Sensors, Materials and Manufacturing (2. : 2018 : Taipeh) Advanced materials and processing technologies
1. Verfasser:	Nindhia, T. G. T. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Lube, T. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
Schlagworte:
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