DEFECT DETECTION IN TUNNEL IMAGES USING RANDOM FORESTS AND DEEP LEARNING

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ICPRS (10. : 2019 : Tours) 10th International Conference on Pattern Recognition Systems (ICPRS-2019)
1. Verfasser:	Decor, G. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Bah, M. D. (VerfasserIn), Foucher, P. (VerfasserIn), Charbonnier, P. (VerfasserIn), Heitz, F. (VerfasserIn)
Pages:	10
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2020
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