Special sections in this issue: Special section on the 19th International Congress of Metrology (CIM 2019), 13th International Symposium on Particle Image Velocimetry (PIV 2019), NanoScale 2019

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: International Congress of Metrology (VerfasserIn), NanoScale (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bristol IOP Publishing 2020
Schriftenreihe:Measurement science and technology volume 31, number 6 (June 2020)
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Beschreibung
Beschreibung:Laut Inhaltsverzeichnis: Special section papers 064001-064008
Beschreibung:circa 100 verschieden gezählte Seiten
Illustrationen, Diagramme