Special sections in this issue: Special section on the 19th International Congress of Metrology (CIM 2019), 13th International Symposium on Particle Image Velocimetry (PIV 2019), NanoScale 2019
Gespeichert in:
Körperschaften: | , |
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Bristol
IOP Publishing
2020
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Schriftenreihe: | Measurement science and technology
volume 31, number 6 (June 2020) |
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Beschreibung: | Laut Inhaltsverzeichnis: Special section papers 064001-064008 |
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Beschreibung: | circa 100 verschieden gezählte Seiten Illustrationen, Diagramme |