Themenheft: Modern non-destructive testing

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Beyerer, Jürgen (HerausgeberIn), Hanke, Randolf (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Berlin, Boston De Gruyter Oldenbourg 2020
Schriftenreihe:Technisches Messen volume 87, issue 6 (2020)
Schlagworte:
Konferenzschrift
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