Themenheft: Modern non-destructive testing

Bibliographische Detailangaben

Weitere Verfasser:	Beyerer, Jürgen (HerausgeberIn), Hanke, Randolf (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin, Boston De Gruyter Oldenbourg 2020
Schriftenreihe:	Technisches Messen volume 87, issue 6 (2020)
Schlagworte:	Konferenzschrift
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