INFLUENCE OF FAST FLUCTUATION OF DYNAMIC LOAD CURRENT ON DYNAMIC ERROR OF SMART ELECTRICITY METER

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IMEKO TC4 International Symposium (23. : 2019 : Xi'an) Electrical and electronic measurements promote industry 4.0
1. Verfasser: Ma, Shanshan (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Lu, Da (VerfasserIn), Yang, Yubo (VerfasserIn), Wang, Jing (VerfasserIn), Wang, Xuewei (VerfasserIn)
Pages:4
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2020
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Beschreibung
ISBN:9781713802044