Scanning nonlinear dielectric microscopy : investigation of ferroelectric, dielectric, and semiconductor materials and devices

Scanning nonlinear dielectric microscopy investigation of ferroelectric, dielectric, and semiconductor materials and devices

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Cho, Yasuo (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Duxford, Cambridge, MA, Kidlington Woodhead Publishing, an imprint of Elsevier 2020
Schriftenreihe:Woodhead Publishing series in electronic and optical materials
Schlagworte:
Ferroelectric devices > Dielectric devices > Semiconductors > Microscopy
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Keine Ergebnisse!