Scanning nonlinear dielectric microscopy : investigation of ferroelectric, dielectric, and semiconductor materials and devices

Scanning nonlinear dielectric microscopy investigation of ferroelectric, dielectric, and semiconductor materials and devices

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Cho, Yasuo (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Duxford, Cambridge, MA, Kidlington Woodhead Publishing, an imprint of Elsevier 2020
Schriftenreihe:Woodhead Publishing series in electronic and optical materials
Schlagworte:
Ferroelectric devices > Dielectric devices > Semiconductors > Microscopy
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:x, 246 Seiten
Illustrations, Diagramme
23 cm
ISBN:9780128172469
978-0-12-817246-9