Artificial Neural Network-Based Crop Yield Prediction Using NDVI, SPI, VCI Feature Vectors

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:ICT4SD (3. : 2018 : Panaji) Information and communication technology for sustainable development
1. Verfasser: Tiwari, Preeti (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Shukla, Piyush (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2020
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Beschreibung
ISBN:9789811371653