Variation of Vanadium Incorporation in Semi-Insulating SiC Single Crystals Grown by PVT Method

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	European Conference on Silicon Carbide and Related Materials (12. : 2018 : Birmingham) Silicon carbide and related materials 2018
1. Verfasser:	Chen, C. Y. Lee, J. M. Choi, D. S. Kim, M. S. Park, Y. S. Jang, W. J. Lee, LS. Yang, T. H. Kim, X. F. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Xu, X. G. (VerfasserIn)
Pages:	2018
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2019
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