Monte Carlo Analysis of the Static Noise Margins for CMOS Gates in Predictive Technology Models

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Institute of Electrical and Electronics Engineers 2013 7th IEEE GCC conference and exhibition (GCC 2012)
1. Verfasser:	Acharya, Nilay V (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Raju, Jithu Lissi (VerfasserIn), Kumar, Anand (VerfasserIn), Tache, Mihai (VerfasserIn), Beiu, Valeriu C. (VerfasserIn)
Pages:	2013 7
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2013
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