Monte Carlo Analysis of the Static Noise Margins for CMOS Gates in Predictive Technology Models

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Institute of Electrical and Electronics Engineers 2013 7th IEEE GCC conference and exhibition (GCC 2012)
1. Verfasser: Acharya, Nilay V (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Raju, Jithu Lissi (VerfasserIn), Kumar, Anand (VerfasserIn), Tache, Mihai (VerfasserIn), Beiu, Valeriu C. (VerfasserIn)
Pages:2013 7
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2013
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Beschreibung
ISBN:9781479907212