Comparing Hough and Radon Transform Based Parallelogram Detection

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Institute of Electrical and Electronics Engineers 2011 IEEE GCC conference and exhibition (GCC 2011)
1. Verfasser:	Bhaskar, Harish (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Werghi, Naoufel (VerfasserIn)
Pages:	2011
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2011
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